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【初売り】 はじめての半導体計測★ビギナーズブックス★水野 文夫★株式会社 工業調査会★絶版★ 電気電子工学
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商品詳細情報
| 管理番号 |
新品 ：86068170295
中古 ：86068170295-1 |
メーカー | 2df2ca | 発売日 | 2025-04-09 02:28 | 定価 | 19578円 | ||
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電気電子工学の作品リスト
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水野 文夫 (著) 株式会社 工業調査会 ★絶版本★ 2008/3/25 初版1刷発行 中古品です。k05-353 電気学会大学講座 超電導工学 改訂版 電気学会。
内容（「BOOK」データベースより）
計測の中で、半導体デバイスの研究・開発・製造に用いられる観測技術を「半導体計測」という。Cb-105/電気材料 電気基礎学 ③ 導電材料 抵抗材料 著者/齋藤幸男 実業教科書株式会社 昭和23年再版発行/L4/61212。半導体デバイスが現在のIT(情報技術)時代・ユビキタス社会(どこにでもコンピュータが存在する社会)を支える土台であるとするならば、半導体計測はその土台を下支えする基礎になり、歩留まり向上などにも重要な役割を果たす。k05-325 電工 (3) 材料製図・法規編 労働省職業訓練局編。本書は、こうした半導体計測技術の基礎から各手法の内容、またケースごとの半導体計測の原理やポイントについて詳細に解説。◎Distortion Analysis of Analog Integrated Circuits 英語版。
著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より)
水野/文夫
明星大学・理工学部教授、工学博士、技術士(電気電子)。電子戦の技術 通信電子戦編 (東京電機大学出版局) デビッド・アダミー、河東晴子ほか訳。1970年、名古屋大学大学院・電子工学専攻・修士課程修了、(株)日立製作所勤務を経て2001年より明星大学に勤務。F23-169 やさしい電子計算機 ハードウェア編 渡部弘之著 電子科学シリーズ2 産報出版 天地小口に汚れ有 書き込み数ページ有 折れ有 割れ有。1995年R&D 100 Award(USA)、1996年市村賞受賞(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
目次
第1章 計測(計測とは
計測の機能
計測の性能
トレーサビリティ)
第2章 半導体計測(半導体計測の種類
半導体計測の特徴
半導体計測の手法)
第3章 主な半導体計測(パターン寸法・LER(LWR)・形状の観測
微粒子・パターン欠陥の検査
膜厚の測定
ウエーハ表面汚染物質の分析
補足:既成概念からの脱却…超高エネルギー電子ビームの使用)
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送料ですが、消費税改定 等により、料金変更の場合には改定料金になりますのでご了承下さい。H13-055 半導体レーザと光集積回路 工学博士 末松安晴 編著。（日本郵便 の ホームページにてご確認下さい。【美品】新版 電気工学ハンドブック 電気学会 平成１０年１１月１０日、４刷。）
ゆうメール・レターパックプラスとも配達事故(不着・紛失・破損など)の補償はありません。jb-027 電気の製図 昭和56年4月5版発行 機械要素の製図 材料の表し方 スケッチ 電気機器の外観図及び接続図 L2:61022。万一の配達事故による補償は当方では致しかねますのでご了承ください。[A11200921]有機エレクトロニクス・フォトニクス材料・デバイス―21世紀の情報産業を支える技術 (CMCテクニカルライブラリー)。